Ionenkristalle: Schottky und Frenkel - Fehlordnung
Einige Besonderheiten sind zu beachten: | ||
funktioniert per Definitionem nicht bei Frenkel Defekten, wohl aber bei Schottky Fehlordnung. In gemischten Fällen liefert sie etwas gemischtes; aus einer Messung lassen sich aber grundsätzlich nicht 3 verschieden atomare Fehlstellen ermitteln | ||
Abschrecken ist schwierig bis unmöglich, da Ionenkristalle meist schlechte Wärmeleiter sind. Dadurch sind die Abschreckgeschwindigkeiten begrenzt. Außerdem sind Ionenkristalle in der Regel spröde und zerbrechen leicht bei Temperaturschocks. | ||
Positronen sehen nicht nur geladene Fehlstellen, sondern auch die geladenen Ionen - funktioniert nicht. | ||
Zum Ausgleich gibt es spezifische Methoden, nämlich die mit der Ionenleitfähigkeit zusammenhängenden Phänomenen. |
Other Methods
Since most properties of crystals are structure sensitive, many more methods exist that give some information about point defects. In what follows we give a list of some tools: | ||
Deep level transient spectroscopy (DLTS). This is a standard method for the investigation of impurity atoms in semiconductors. | ||
Electron spin resonance (ESR) | ||
Infra red spectroscopy (IR spectroscopy); especially in the form of Fourier-transform IR-spectroscopy (FTIR). The method of choice to investigate O and C in Si. |