Inorganic Functional Materials

mawi-704: Analytics 1

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Überblick über Teilchenstrahl- und Strahlungsmethoden zur Analyse von Grenzflächen und dünnen Schichten Rasterelektronenmikroskopie Transmissionselektronenmikroskopie Ionenrückstreumethoden Sekundärionenmassenspektroskopie

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Recommended literature

1. E. Fuchs, H. Oppolzer, H. Rehme: Particle Beam Microanalysis - Fundamentals, Methods and Applications; VCH 1990 2. R. Brundle, C.A. Evans Jr., S. Wilson (Eds.): Encyclopedia of Materials Characterization; Butterworth-Heinemann 1992 3. Materials Science and Technology (Eds. R.W. Cahn, P. Haasen, E.J. Kramer): Vol. 2 Characterization of Materials VCH 1992

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