Apr 14, 2024 from 08:15 AM to 09:45 AM and more… – Seminarraum Geb. F (KS2/Geb.F - SR III)
mawi-704: Analytics 1
Contents
Überblick über Teilchenstrahl- und Strahlungsmethoden zur Analyse von Grenzflächen und dünnen Schichten Rasterelektronenmikroskopie Transmissionselektronenmikroskopie Ionenrückstreumethoden Sekundärionenmassenspektroskopie
Lecturer(s)
Dates
Recommended literature
1. E. Fuchs, H. Oppolzer, H. Rehme: Particle Beam Microanalysis - Fundamentals, Methods and Applications; VCH 1990 2. R. Brundle, C.A. Evans Jr., S. Wilson (Eds.): Encyclopedia of Materials Characterization; Butterworth-Heinemann 1992 3. Materials Science and Technology (Eds. R.W. Cahn, P. Haasen, E.J. Kramer): Vol. 2 Characterization of Materials VCH 1992
Lecture Notes
Energy-Dispersive X-Ray Spectroscopy